赛克播客
最新文章
· 赛克数码荣获2013年度...[02-26]
· 第11届中国国际科学仪...[05-16]
· 尺寸测量之包容要求下...[05-16]
· 全自动影像测量仪再次...[05-15]
· 光学测量仪的特点与优...[05-14]
· 岷江源[05-14]
· 2013第六届国际触摸屏...[05-14]
· SK4520/5530 全...[05-14]
· SK2000/2100 工...[05-14]
· SK1111/1105触摸屏高...[05-13]
本站统计
文章总数: 272 篇
总访问量:8509341人次
今日流量:45人次
昨日流量:625人次
当前在线: 1 人
友情链接
国际工业自动化
中国触摸屏网
中国显微图像网
大恒图像
维视图像
中国模具网
中国LED网
中国图像网
奥林巴斯
西门子工业
中国工控网
中国机电网
微纳电子技术
应用光学
机经网
你的位置

 
 
影像测量技术课堂

全自动影像测量仪之自动对焦辅助测高

时间:2009-01-01 01:41:35    点击:6651    

 

        自动对焦,基于机器视觉的图像清晰度算法,并以此控制仪器自动对焦过程,从而实现自动对焦。

 

        辅助测高,运用自动对焦功能,自动完成对不同高度的台阶面的对焦操作,从而计算出这些台阶面之间的高度差和相对于仪器平台的高度值(Z值)。自动对焦,辅助测高是全自动影像测量仪的基础功能,可使二次元机型具有了2.5次元的测量能力。基于机器视觉的测控合一,完成自动对焦过程同样需要Z轴的微米级数控能力和闭环控制过程,快速而精准,是全自动影像测量仪的硬指标。

  

       需要说明的是,光学成像受光线、环境、材料影响,需要针对不同的被测物体编辑使用合适的照明光源,得到最佳成像效果,从而确保自动对焦的精准。因此,照明光源和成像器件是自动对焦辅助测高的基础,优质成像始终是影像测量仪的质量保障,这些都是用好全自动影像测量仪和发挥其性能的基础。也正是因为机器视觉对光学影像的像质要求很高和易受环境干扰的特点,高速效能型检测需要针对性设计而非通用性设计,这正是非标定制型影像测量设备的高速、高效能、高精度、更便携的主要原因之一。

 

 


自动对焦,辅助测高

 

 

 

 

  · 上一篇    如何现场检验影像测量仪的精度
  · 下一篇    影像测量仪的性能比较
首页 | 产品中心 | 软件演示厅 | 技术课堂 | 客服中心 | 公司简介 | 联系我们 | 资料下载
深圳赛克数码科技开发有限公司 版权所有 Copyright © 2024
站长:admin    页面执行时间:0.0061秒    粤ICP备10058458号