SK2008H是赛克数码推出的一款经典高倍工业显微镜，它的前身SK2008有着很高的美誉度和极低的故障率，被广泛用于电子、微电子、工业材料分析和导电粒子测量，亦为神六天眼6微米镀线的测量设备。SK2008H是在SK2008的基础上改进设计，1，增加了一组物镜，从SK2008H的三组物镜增加为四组，标配物镜的所产生的电子倍率分别是：400*、1000*、2000*、4000*，另可选配提供6000*和8000*电子倍率的物镜(选购件)；2，增高了1000*倍下的工作距离(SK2008H在1000*倍下工作距离达6.7mm)，从而满足电子与微电子领域的特殊需要；3，釆用了日本JVC高感度低信噪的显微专用彩色摄像机，与优异的光路设计相配合，使像质更加优越，有着极高的性价比。(直销部400-6382-630转1)

SK2008H高倍显微测量系统

1000*倍下的IC内部1

微米测量软件：

     这是一款被广泛使用的多功能显微测量软件，有着十分娇人的成绩，光是神六天眼6微米镀线是由此款软件检测的就足以令人刮目相看。显微宝SKS-CL V2.0软件非常实用，功能强大，支持空间旋转和同步倍率校正的人性化设计使软件操作极易上手。V2.0在优质光学成像系统下可获得±2微米以上的测量精度，在SK2008H高倍显微镜下甚至可以做到±0.3微米的极限测量精度。

     显微宝SKS-CL显微测量软件有两个与众不同的显著特点：一是具有双向同步倍率校正功能(赛克数码独有专利技术)，从而实现了在任何图像器件、任何光学器件、任何显示器下XY双方倍率一致，即2维倍率一次校正，实现高精度测量；二是具有任意设立坐标原点和任意旋转坐标方向，使复杂的测量操作极具人性化而变得十分简单。

    功能简介
　　☆ 多点测量点、线、圆、弧，自动统计取均值，提高测量精度。
　　☆ 坐标平移和坐标摆正，测量更加方便快捷，提高测量效率。
　　☆ 巨集指令，同一种工件批量测量更加方便快捷，提出高测量效率。
　　☆ 测量数据直接发送到AutoCAD中，测量的图形可以保存。
　　☆ 测量数据可发送到Excel中，进行统计分析。
　　☆ 记录用户程序、编辑指令、教导执行。
　　☆ 元素测量：多点测量点、线、圆、弧、角度。
　　☆ 元素构造：中心点构造、交点构造、中点构造、线构造、圆构造、角度构造。
　　☆ 元素预置：点、线、圆、弧。
　　☆ 设置影像的灰度，饱和度，对比度，影像保存。